Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
近藤 寛*; 寺岡 有殿
第54回表面科学基礎講座; 表面・界面分析の基礎と応用テキスト, p.109 - 128, 2012/10
表面分析のプローブとして光(電磁波)もよく使われる。赤外線からX線まで、それぞれのエネルギーに応じて表面分析への応用方法や対象が異なる。本講では特にシンクロトロン軌道放射光(以下、「放射光」)のX線吸収分光測定への応用について解説する。主な放射光施設を紹介し、円軌道放射,蛇行起動放射,フィリングパターン,トップアップ運転について述べる。また、放射光ビームライン技術,分光技術について概説する。さらに、X線吸収端近傍微細構造分光について、その原理を詳しく解説し、分子配向の解析例を紹介する。さらに広域X線吸収分光についての原理を解説し、分子の吸着サイト解析への応用について紹介する。